삼성 “갤노트7 발화, 배터리 자체결함 때문”

삼성SDI는 눌림 현상, ATL은 얇은 분리막 등 문제

삼성전자가 잇따른 발화 사건으로 단종된 갤럭시노트7의 소손 원인을 배터리 자체 결함으로 최종 결론냈다.

삼성전자는 23일 삼성 서초사옥에서 국내외 언론 300여명이 참석한 가운데 기자회견을 열고 갤럭시노트7 발화 원인과 향후 재발 방지 대책을 발표했다.

고동진 삼성전자 무선사업부장 사장은 “지난 수 개월 간 철저한 원인 규명을 위해 하드웨어, 소프트웨어 등 제품 뿐만 아니라 각각의 검증 단계와 제조 물류 보관 등 전 공정에서 원점에서부터 총체적이고 깊이 있는 조사를 실시했다”고 설명했다.

고 사장은 “정확한 원인 규명을 위해서 시장에서 발생한 소손 현상을 실험실에서 재현하는 것이 중요하다고 판단했다”며 “대규모의 재현 테스트 설비를 구축해 사용자 조건과 유사한 환경 하에서 충방전 테스트를 통해 소손 현상을 재현했으며, 이를 통해 정확한 분석을 진행할 수 있었다”고 덧붙였다.

삼성전자는 제품 20만대, 배터리 3만개로 진행한 대규모 충방전 시험에서 소손 현상을 재현했으며, 갤럭시노트7에 탑재된 A배터리(삼성SDI)와 B배터리(중국 ATL)에서 각기 다른 원인으로 소손 현상이 일어나는 것을 확인했다.

삼성전자는 발화 원인 조사 객관성을 높이기 위해 UL, 엑스포넌트(Exponent), TUV라인란드 등 해외 전문기관을 통해서도 독립적인 조사를 진행했다. 갤럭시노트7 발화 원인 분석에 참가한 해외 전문기관들 분석 결과도 배터리 자체 결함으로 모아졌다.

삼성전자 '갤럭시노트7' (사진=씨넷)

미국 시험인증기관인 UL은 제품 자체에서 발화와 관련된 문제를 발견할 수 없었으며, 삼성SDI 배터리는 배터리 위쪽 코너에 눌림 현상과 얇은 분리막으로 배터리 내부 단락을 발생시키는 것이 발화를 유발하는 요인으로 분석됐다. ATL 배터리에 대해서는 비정상 융착돌기, 절연테이프 미부착, 얇은 분리막의 조합이 배터리 내부에서 단락을 발생시키는 것으로 분석됐다.

미국 과학기술 분야 분석 전문 기관 엑스포넌트도 제품 전반에 걸친 상세한 분석을 진행해 하드웨어와 소프트웨어 분석에서는 소손과 관련있는 요인이 발견되지 않았다고 밝혔다.

삼성SDI 배터리는 음극탭 부위 젤리롤 코너의 눌림 현상이 소손의 주요 원인으로 분석됐으며, ATL 배터리의 경우 비정상적으로 높은 융착 돌기와 그로 인한 절연 테이프와 분리막 파손을 내부 단락을 발생시키는 주요 요인으로 분석했다.

독일에 본사를 두고 있는 글로벌 인증 기관 TUV 라인란드는 배터리 물류 시스템과 폰 조립 공정운영 상의 배터리 안전성에 대해 집중적으로 조사했다. TUV 라인란드는 심사한 폰 제조 공정과 배터리 물류 시스템에서 배터리 안전성을 저해할 수 있는 요인은 발견되지 않았다고 밝혔다.

고동진 사장은 “혁신적인 갤럭시노트7을 만들기 위해서 배터리 사양에 대한 목표를 제시했고, 배터리 설계와 제조 공정 상의 문제점을 제품 출시 전에 최종적으로 확인하고 제대로 검증하지 못한 것에 대해 책임을 통감한다”며 “경영 전반에 걸쳐 품질 최우선의 경영 체제를 강화해 제품 안전성에 있어서도 새로운 혁신을 지속해 나가겠다”고 밝혔다.