美전자업계 D램스트레스

검사 소홀한 제품으로 대거 불량 발생한다

'미국전자업계가 불량 메모리 때문에 테크노스트레스에 시달리고 있다.’

EE타임스는 반도체 제조업체들이 제품을 빨리 만드느라 자체 테스트공정 생략을 관행시 하면서 과도한 반도체 불량을 가져오고 있다고 보도했다. 피해를 발생시킨 반도체는 가전산업에 많이 사용되는 D램, 낸드메모리 및 관련디바이스였다.

이 보도는 지난주 19일부터 22일까지 4일간 미 텍사스 오스틴에서 열린 세마테크심포지엄에서 캐나다 토론토 대학,구글, 커모더티서버스(Commodity Servers)가 2년5개월간 공동 수행한 보고서 발표내용을 요약한 것이다.

이에따르면 미국 전자산업계에는 거대한 D램 문제가 존재한다. D램에러에 대해 “현대 컴퓨터클러스터의 하드웨어를 망치는 가장 일반적인 형태이며, 이 부분의 실패는 하드웨어 대체비용과 서비스 파괴를 가져오며 큰 비용을 소요하게 만든다“는 지적이 나왔다.

이 보고서는 “예를 들면 D램 불량률은 이전에 알려진 것보다 엄청난 비율이어서 메가비트당(10억개 디바이스 시간당) 2만5천~7만건의 불량을 발생시킨다. 듀얼인라인메모리모듈(DIMM)의 연간 불량률은 8% 이상이다”고 분석했다.

보고서는 어느 공급사에 과실이 있는지 불분명하지만 마이크론테크놀로지 자회사인 렉사미디어같은 벤처는 다른 곳보다 더 신뢰성 있는 것으로 증명됐다“고 댄 허치슨 VLSI연구소 사장은 말했다.

세마테크 심포지엄에 참석한 허치슨은 낸드디바이스에 있어서도 USB플래시디바이스와 다른 제품의 오작동을 일으키는 실수가 있다. 메모리 오작동의 이유는 OEM업체에 있다. 테스트업체와 칩메이커가 비용절감을 위해서 빠른 길을 가려고 하고 있기 때문”이라고 설명했다.

그는 “문제는 아무도 테스트에 비용을 지불하려 하지 않아 이 관행이 가전시장에서 불리한 결과로 작용하고 있다. 이것이 애널리스트들이 말하는 테크노스트레스, 즉 엔드유저제품이 배우기 어렵거나 실패하는 상황이라고 말했다.

이번 보고서는 토론토 대학의 비앙카 슈뢰더, 구글의 에두아르도 핀헤이로, 월프 디트리히 웨버 등 3명의 연구원이 ‘D램 에러 ,대규모 필드스터디’란 논문을 통해 발표됐다.

이 연구보고서(http://www.cs.toronto.edu/~bianca/papers/sigmetrics09.pdf)는 최소한 5군데의 공급자와 제품을 조사대상으로 삼아 연구한 결과다.