지멘스, 반도체 공정 결함 SW '테센트 인시스템 테스트' 출시

IC 설계 검증 DFT(테스트 용이화 설계) 솔루션

지멘스 디지털 인더스트리 소프트웨어, 지멘스 EDA 사업부는 반도체 공정 결함을 체크하는 소프트웨어 '테센트 인시스템 테스트(Tessent In-system Test)'를 12일 출시했다. 

이 제품은 차세대 집적 회로(IC, Integrated Circuit)의 설계단계에서 칩의 공정상 결함이 있는지 체크하는 테스트 용이화 설계(DFT, Design-for-Test) 솔루션이다. 

지멘스가 '테센트 인시스템 테스트'를 출시했다. (사진=지멘스)

테센트 인시스템 테스트는 노후화 및 환경 요인으로 유발되는 사이런트 데이터 손상(Silent Data Corruption), 사일런트 데이터 에러(SDE)와 같은 중요한 문제를 해결하기 위해 설계됐다. 아울러 지멘스의 테센트 스트리밍 스캔 네트워크 소프트웨어와 함께 작동하도록 특별히 설계된 업계 최초의 인시스템 테스트 컨트롤러이다.

이런 호환성을 통해 사용자는 제품 수명주기 동안 시스템 내에서 임베디드 결정론적 테스트 패턴을 적용할 수 있다. 또 IC와 이를 구동하는 애플리케이션의 안정성과 보안, 완전한 기능 유지가 가능하다. 

이 소프트웨어는 기존 테센트 미션모드와 테센트 스트리밍 스캔 네트워크(SSN) 소프트웨어의 성과를 기반으로 개발됐다. 따라서 테센트 테스트컴프레스 소프트웨어로 생성된 결정론적 테스트 패턴을 원활하게 통합할 수 있다. 사용자는 기존 IJTAG 및 SSN 기반 패턴을 시스템 내 애플리케이션에 재사용하면서 전반적인 칩 구조 설계 개선과 테스트 시간 단축이 가능하다.

특히 업계 표준 APB 또는 AXI 버스 인터페이스를 통해 인시스템 테스트 컨트롤러에 직접 테스트 패턴을 적용할 수 있다. 이는 사전 정의된 테스트 기간 내 최고 수준의 테스트 품질을 보장하며, 디바이스 수명주기에 따른 테스트 내용 변경도 지원한다.

지멘스는 이번 솔루션이 자동차, 항공우주, 의료기기 등 안전이 핵심인 산업 분야에서 특히 유용할 것으로 기대하고 있다. 결정론적 패턴이 내장된 인시스템 테스트는 기존 테스트 인프라를 재사용할 수 있어 효율성도 높일 수 있다.

지멘스 디지털 산업 소프트웨어 디지털 설계 생성 플랫폼의 담당 앤커 굽타(Ankur Gupta) 부사장은 "테센트 인시스템 테스트는 고객이 실리콘 수명주기 관리 목표를 달성하는 데 있어 중요한 진전이다"라며 "노후화 및 환경적 요인이 설계에 큰 영향을 미치는 문제를 해결해 향상된 성능과 보안, 생산성을 제공한다"라고 말했다.